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CWS300光學跟蹤式激光掃描儀測量系統

CWS300光學跟蹤式激光掃描儀測量系統
概述:
便捷輕巧:采用碳纖維結構設計,重量減輕25% 掃描速度快:采用7條激光十字線,點云掃描測量速度提高12倍 環境適應性強:黑色、彩色和光亮的表面都可輕松應對,不穩定、振動、狹窄的環境內也可正常掃描 測量精度高:真正實現現場的動態計量級測量 操作簡單:即插即用,無需預熱,可以快速安裝及使用 擴展性強:結合MPS工業攝影測量系統,可輕松大幅擴展掃描范圍,無任何精度損失,也無需蛙跳
詳情介紹

系統概述

鄭州辰維科技股份有限公司最新推出的CWS300系統,是一套智能光學、實時跟蹤式的三維激光掃描測量系統。


該系統基于工業攝影測量技術和結構光掃描測量技術,以2臺工業測量相機組成1套P-Track光學的動態跟蹤器,實時對相機視場范圍內的B-Scan激光掃描儀進行動態跟蹤和定位,B-Scan激光掃描儀實時掃描出被測工件表面的三維點云數據,并自動統一在P-Track測量坐標系下。該系統可廣泛應用于汽車制造、航空航天、文物保護等領域。


系統組成

● 光學跟蹤器(P-Track)

基于雙相機工業攝影測量技術,一體式碳纖維結構設計,配備高端光學器件和紅外照明裝置,能夠實時動態跟蹤B-Scan激光掃描儀和物方的攝影掃描靶標點,為整個系統提供統一的測量基準。


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● 激光掃描儀(B-Scan)


基于結構光掃描測量技術,碳纖維球形結構設計,便于P-Track光學跟蹤器從各個方向進行跟蹤定位,具有多線激光掃描模式和單線激光掃描模式,可以精確獲取工件表面、縫隙、凹槽等的高精度點云數據,為現場的三維數字掃描提供靈活完美的解決方案。


CWS300光學跟蹤式激光掃描儀測量系統(圖2)


● 聯機測量軟件


全中文界面,簡潔友好的功能菜單設計,引導使用者輕松實現三維點云數據的采集、優化、保存和輸出,點云數據格式可選:.stl,.obj,.asc,.txt,.xyz等,兼容各類主流商用點云處理軟件。


CWS300光學跟蹤式激光掃描儀測量系統(圖3)



應用場景

適用于航天、航空、電子、重工、汽車等工業制造領域,以及文物考古、藝術品設計等領域。

檢測:產品加工質量檢測、模具形面檢測、產品磨損檢測、變形分析、裝配干涉分析等。

逆向工程:產品、模具的逆向建模,文物、藝術品的數字化建模歸檔保護等。


CWS300光學跟蹤式激光掃描儀測量系統(圖4)


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